概要： BT和迅雷到底伤不伤硬盘,看了你就知道 先引用一下某人的话，有人认为BT和迅雷伤害硬盘： 为什么频繁读写会损坏硬盘呢？ 磁头寿命是有限的，频繁的读写会加快磁头臂及磁头电机的磨损，频繁的读写磁盘某个区域更会使该区温度升高，将影响该区磁介质的稳定性还会导至读写错误，高温还会使该区因热膨涨而使磁头和碟面更近了（正常情况下磁头和碟面只有几个微米，更近还得了？），而且也会影响薄膜式磁头的数据读取灵敏度，会使晶体振荡器的时钟主频发生改变，还会造成硬盘电路元件失灵。 任务繁多也会导至IDE硬盘过早损坏，由于IDE硬盘自身的不足，，过多任务请求是会使寻道失败率上升，导至磁头频繁复位（复位就是磁头回复到 0磁道，以便重新寻道）加速磁头臂及磁头电机磨损。 可是实际上并非如此，我先说一下现代硬盘的工作原理 现在的硬盘,无论是IDE还是SCSI,采用的都是"温彻思特“技术,都有以下特点： 1、磁头，盘片及运动机构密封。
硬盘工作的原理,标签：电脑硬件知识,计算机硬件知识,http://www.laixuea.comBT和迅雷到底伤不伤硬盘,看了你就知道
先引用一下某人的话，有人认为BT和迅雷伤害硬盘：
为什么频繁读写会损坏硬盘呢？
磁头寿命是有限的，频繁的读写会加快磁头臂及磁头电机的磨损，频繁的读写磁盘某个区域更会使该区温度升高，将影响该区磁介质的稳定性还会导至读写错误，高温还会使该区因热膨涨而使磁头和碟面更近了（正常情况下磁头和碟面只有几个微米，更近还得了？），而且也会影响薄膜式磁头的数据读取灵敏度，会使晶体振荡器的时钟主频发生改变，还会造成硬盘电路元件失灵。
任务繁多也会导至IDE硬盘过早损坏，由于IDE硬盘自身的不足，，过多任务请求是会使寻道失败率上升，导至磁头频繁复位（复位就是磁头回复到 0
磁道，以便重新寻道）加速磁头臂及磁头电机磨损。
可是实际上并非如此，我先说一下现代硬盘的工作原理
现在的硬盘,无论是IDE还是SCSI,采用的都是"温彻思特“技术,都有以下特点：
1、磁头，盘片及运动机构密封。
2、固定并高速旋转的镀磁盘片表面平整光滑。
3、磁头沿盘片径向移动。
4、磁头对盘片接触式启停，但工作时呈飞行状态不与盘片直接接触。
盘片：硬盘盘片是将磁粉附着在铝合金（新材料也有用玻璃）圆盘片的表面上.这些磁粉被划分成称为磁道的若干个同心圆，在每个同心圆的磁道上就好像有无数的任意排列的小磁铁，它们分别代表着0和1的状态。当这些小磁铁受到来自磁头的磁力影响时，其排列的方向会随之改变。利用磁头的磁力控制指定的一些小磁铁方向，使每个小磁铁都可以用来储存信息。
盘体：硬盘的盘体由多个盘片组成，这些盘片重叠在一起放在一个密封的盒中，它们在主轴电机的带动下以很高的速度旋转，其每分钟转速达3600，4500，5400，7200甚至以上。
磁头：硬盘的磁头用来读取或者修改盘片上磁性物质的状态，一般说来，每一个磁面都会有一个磁头，从最上面开始，从0开始编号。磁头在停止工作时，与磁盘是接触的，但是在工作时呈飞行状态。磁头采取在盘片的着陆区接触式启停的方式，着陆区不存放任何数据，磁头在此区域启停，不存在损伤任何数据的问题。
读取数据时，盘片高速旋转，由于对磁头运动采取了精巧的空气动力学设计，此时磁头处于离盘面数据区0.2---0.5微自以为是的家伙度的”飞行状态“。既不与盘面接触造成磨损，又能可*的读取数据。
电机：硬盘内的电机都为无刷电机，在高速轴承支撑下机械磨损很小，可以长时间连续工作。高速旋转的盘体产生了明显的陀螺效应，所以工作中的硬盘不宜运动，否则将加重轴承的工作负荷。硬盘磁头的寻道饲服电机多采用音圈式旋转或者直线运动步进电机，在饲服跟踪的调节下精确地跟踪盘片的磁道，所以在硬盘工作时不要有冲击碰撞，搬动时要小心轻放。
原理说到这里，大家都明白了吧？
首先，磁头和数据区是不会有接触的，所以不存在磨损的问题。
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